Abstract

Accurate values of the extreme ultraviolet (EUV) optical properties of materials are required to make EUV optics such as filters and multilayer mirrors. The optical properties of aluminum studied in this report are required, in particular, as aluminum is used as an EUV filter material. The complex refractive index of solid aluminum and the imaginary part of the refractive index of solid iron between 17 eV and 39 eV have been measured using EUV harmonics produced from an 800 nm laser focused to 1014Wcm2 in an argon gas jet impinging on a double slit interferometer.

© 2012 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. D. Attwood, Soft X-Rays and Extreme Ultraviolet Radiation (Cambridge University, 1999).
  2. B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
    [CrossRef]
  3. K. Rosfjord, C. Chang, and D. Attwood, “Direct index of refraction measurement of silicon and ruthenium at EUV wavelengths,” Proc. SPIE 5538, 92–95 (2004).
    [CrossRef]
  4. B. Henke, E. M. Gullikson, and J. C. Davis, “X-ray interactions: photoabsorption, scattering, transmission and reflection at E=50‒30,000  eV, Z=1‒92,” At. Data Nucl. Data Tables 54, 181–342 (1993).
    [CrossRef]
  5. E. Shiles, T. Sasaki, M. Inokuti, and D. Y. Smith, “Self-consistency and sum-rule tests in the Kramers-Kronig analysis of optical data: applications to aluminum,” Phys. Rev. B 22, 1612–1628 (1980).
    [CrossRef]
  6. D. Y. Smith, E. Shiles, and M. Inokuti, in Handbook of Optical Constants of Solids, E. D. Palik, ed. (Academic, 1985) pp. 369–406.
  7. J. I. Larruquert, J. A. Méndez, and J. A. Aznárez, “Far-ultraviolet reflectance measurements and optical constants of unoxidized aluminum films,” Appl. Opt. 34, 4892–4899 (1995).
    [CrossRef]
  8. J. I. Larruquert, J. A. Méndez, and J. A. Aznárez, “Optical constants of aluminum 10 films in the extreme ultraviolet interval of 82–77 nm,” Appl. Opt. 35, 5692–5697 (1996).
    [CrossRef]
  9. C. Chang, E. Anderson, P. Naulleau, E. Gullikson, K. Goldberg, and D. Attwood, “Direct index of refraction measurement at extreme ultraviolet wavelength region with a novel interferometer,” Opt. Lett. 27, 1028–1030 (2002).
    [CrossRef]
  10. E. M. Gullikson, P. Denham, S. Mrowka, and J. H. Underwood, “Absolute photoabsorption measurements of Mg, Al, and Si in the soft-x-ray region below the L2, 3 edges,” Phys. Rev. B 49, 16283–16288 (1994).
    [CrossRef]
  11. R. Keenan, C. L. S. Lewis, J. S. Wark, and E. Wolfrum, “Measurements of the XUV transmission of aluminium with a soft x-ray laser,” J. Phys. B 35, L447–L451 (2002).
    [CrossRef]
  12. Centre for X-ray Optics Lawrence Berkley National Laboratory, http://henke.lbl.gov/optical_constants .
  13. F. Frassetto, C. Cacho, C. A. Froud, I. C. E. Turcu, P. Villoresi, W. A. Bryan, E. Springate, and L. Poletto, “Single-grating monochromator for extreme-ultraviolet ultrashort pulses,” Opt. Express 19, 19169–19181 (2011).
    [CrossRef]
  14. T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
    [CrossRef]

2011 (1)

2009 (1)

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

2004 (1)

K. Rosfjord, C. Chang, and D. Attwood, “Direct index of refraction measurement of silicon and ruthenium at EUV wavelengths,” Proc. SPIE 5538, 92–95 (2004).
[CrossRef]

2002 (2)

C. Chang, E. Anderson, P. Naulleau, E. Gullikson, K. Goldberg, and D. Attwood, “Direct index of refraction measurement at extreme ultraviolet wavelength region with a novel interferometer,” Opt. Lett. 27, 1028–1030 (2002).
[CrossRef]

R. Keenan, C. L. S. Lewis, J. S. Wark, and E. Wolfrum, “Measurements of the XUV transmission of aluminium with a soft x-ray laser,” J. Phys. B 35, L447–L451 (2002).
[CrossRef]

1996 (2)

T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
[CrossRef]

J. I. Larruquert, J. A. Méndez, and J. A. Aznárez, “Optical constants of aluminum 10 films in the extreme ultraviolet interval of 82–77 nm,” Appl. Opt. 35, 5692–5697 (1996).
[CrossRef]

1995 (1)

1994 (1)

E. M. Gullikson, P. Denham, S. Mrowka, and J. H. Underwood, “Absolute photoabsorption measurements of Mg, Al, and Si in the soft-x-ray region below the L2, 3 edges,” Phys. Rev. B 49, 16283–16288 (1994).
[CrossRef]

1993 (1)

B. Henke, E. M. Gullikson, and J. C. Davis, “X-ray interactions: photoabsorption, scattering, transmission and reflection at E=50‒30,000  eV, Z=1‒92,” At. Data Nucl. Data Tables 54, 181–342 (1993).
[CrossRef]

1980 (1)

E. Shiles, T. Sasaki, M. Inokuti, and D. Y. Smith, “Self-consistency and sum-rule tests in the Kramers-Kronig analysis of optical data: applications to aluminum,” Phys. Rev. B 22, 1612–1628 (1980).
[CrossRef]

Abreu, E.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Anderson, E.

Attwood, D.

K. Rosfjord, C. Chang, and D. Attwood, “Direct index of refraction measurement of silicon and ruthenium at EUV wavelengths,” Proc. SPIE 5538, 92–95 (2004).
[CrossRef]

C. Chang, E. Anderson, P. Naulleau, E. Gullikson, K. Goldberg, and D. Attwood, “Direct index of refraction measurement at extreme ultraviolet wavelength region with a novel interferometer,” Opt. Lett. 27, 1028–1030 (2002).
[CrossRef]

D. Attwood, Soft X-Rays and Extreme Ultraviolet Radiation (Cambridge University, 1999).

Aznárez, J. A.

Bajt, S.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Bornath, T.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Bryan, W. A.

Burian, T.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Cacho, C.

Chalupsky, J.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Chang, C.

Chapman, H.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Cihelka, J.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Davis, J. C.

B. Henke, E. M. Gullikson, and J. C. Davis, “X-ray interactions: photoabsorption, scattering, transmission and reflection at E=50‒30,000  eV, Z=1‒92,” At. Data Nucl. Data Tables 54, 181–342 (1993).
[CrossRef]

Denham, P.

E. M. Gullikson, P. Denham, S. Mrowka, and J. H. Underwood, “Absolute photoabsorption measurements of Mg, Al, and Si in the soft-x-ray region below the L2, 3 edges,” Phys. Rev. B 49, 16283–16288 (1994).
[CrossRef]

Ditmire, T.

T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
[CrossRef]

Döppner, T.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Düsterer, S.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Dzelzainis, T.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Fajardo, M.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Förster, E.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Fortmann, C.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Frassetto, F.

Froud, C. A.

Fustlin, R. R.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Galtier, E.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Glenzer, S. H.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Göde, S.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Goldberg, K.

Gregori, G.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Gullikson, E.

Gullikson, E. M.

E. M. Gullikson, P. Denham, S. Mrowka, and J. H. Underwood, “Absolute photoabsorption measurements of Mg, Al, and Si in the soft-x-ray region below the L2, 3 edges,” Phys. Rev. B 49, 16283–16288 (1994).
[CrossRef]

B. Henke, E. M. Gullikson, and J. C. Davis, “X-ray interactions: photoabsorption, scattering, transmission and reflection at E=50‒30,000  eV, Z=1‒92,” At. Data Nucl. Data Tables 54, 181–342 (1993).
[CrossRef]

Gumbell, E. T.

T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
[CrossRef]

Hajkova, V.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Heimann, P.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Henke, B.

B. Henke, E. M. Gullikson, and J. C. Davis, “X-ray interactions: photoabsorption, scattering, transmission and reflection at E=50‒30,000  eV, Z=1‒92,” At. Data Nucl. Data Tables 54, 181–342 (1993).
[CrossRef]

Hutchinson, M. H. R.

T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
[CrossRef]

Inokuti, M.

E. Shiles, T. Sasaki, M. Inokuti, and D. Y. Smith, “Self-consistency and sum-rule tests in the Kramers-Kronig analysis of optical data: applications to aluminum,” Phys. Rev. B 22, 1612–1628 (1980).
[CrossRef]

D. Y. Smith, E. Shiles, and M. Inokuti, in Handbook of Optical Constants of Solids, E. D. Palik, ed. (Academic, 1985) pp. 369–406.

Juha, L.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Jurek, M.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Keenan, R.

R. Keenan, C. L. S. Lewis, J. S. Wark, and E. Wolfrum, “Measurements of the XUV transmission of aluminium with a soft x-ray laser,” J. Phys. B 35, L447–L451 (2002).
[CrossRef]

Khattak, F. Y.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Khorsand, A. R.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Klinger, D.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Kozlova, M.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Krzywinski, J.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Laarmann, T.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Larruquert, J. I.

Lee, H. J.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Lee, R. W.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Lewis, C. L. S.

R. Keenan, C. L. S. Lewis, J. S. Wark, and E. Wolfrum, “Measurements of the XUV transmission of aluminium with a soft x-ray laser,” J. Phys. B 35, L447–L451 (2002).
[CrossRef]

Meiwes-Broer, K.-H.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Méndez, J. A.

Mercere, P.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Meyerhofer, D. D.

T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
[CrossRef]

Mrowka, S.

E. M. Gullikson, P. Denham, S. Mrowka, and J. H. Underwood, “Absolute photoabsorption measurements of Mg, Al, and Si in the soft-x-ray region below the L2, 3 edges,” Phys. Rev. B 49, 16283–16288 (1994).
[CrossRef]

Murphy, W. J.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Nagler, B.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Naulleau, P.

Nelson, A. J.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Poletto, L.

Przystawik, A.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Redmer, R.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Reinholz, H.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Riley, D.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Röpke, G.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Rosfjord, K.

K. Rosfjord, C. Chang, and D. Attwood, “Direct index of refraction measurement of silicon and ruthenium at EUV wavelengths,” Proc. SPIE 5538, 92–95 (2004).
[CrossRef]

Rosmej, F.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Saksl, K.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Sasaki, T.

E. Shiles, T. Sasaki, M. Inokuti, and D. Y. Smith, “Self-consistency and sum-rule tests in the Kramers-Kronig analysis of optical data: applications to aluminum,” Phys. Rev. B 22, 1612–1628 (1980).
[CrossRef]

Schott, R.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Shiles, E.

E. Shiles, T. Sasaki, M. Inokuti, and D. Y. Smith, “Self-consistency and sum-rule tests in the Kramers-Kronig analysis of optical data: applications to aluminum,” Phys. Rev. B 22, 1612–1628 (1980).
[CrossRef]

D. Y. Smith, E. Shiles, and M. Inokuti, in Handbook of Optical Constants of Solids, E. D. Palik, ed. (Academic, 1985) pp. 369–406.

Smith, D. Y.

E. Shiles, T. Sasaki, M. Inokuti, and D. Y. Smith, “Self-consistency and sum-rule tests in the Kramers-Kronig analysis of optical data: applications to aluminum,” Phys. Rev. B 22, 1612–1628 (1980).
[CrossRef]

D. Y. Smith, E. Shiles, and M. Inokuti, in Handbook of Optical Constants of Solids, E. D. Palik, ed. (Academic, 1985) pp. 369–406.

Smith, R. A.

T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
[CrossRef]

Sobierajski, R.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Springate, E.

Thiele, R.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Tiggesbäumker, J.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Tisch, J. W. G.

T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
[CrossRef]

Toleikis, S.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Tschentscher, T.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Turcu, I. C. E.

Underwood, J. H.

E. M. Gullikson, P. Denham, S. Mrowka, and J. H. Underwood, “Absolute photoabsorption measurements of Mg, Al, and Si in the soft-x-ray region below the L2, 3 edges,” Phys. Rev. B 49, 16283–16288 (1994).
[CrossRef]

Uschmann, I.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Villoresi, P.

Vinko, S. M.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Vollmer, H. J.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Wark, J. S.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

R. Keenan, C. L. S. Lewis, J. S. Wark, and E. Wolfrum, “Measurements of the XUV transmission of aluminium with a soft x-ray laser,” J. Phys. B 35, L447–L451 (2002).
[CrossRef]

Whitcher, T.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Wolfrum, E.

R. Keenan, C. L. S. Lewis, J. S. Wark, and E. Wolfrum, “Measurements of the XUV transmission of aluminium with a soft x-ray laser,” J. Phys. B 35, L447–L451 (2002).
[CrossRef]

Zastrau, U.

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Appl. Opt. (2)

At. Data Nucl. Data Tables (1)

B. Henke, E. M. Gullikson, and J. C. Davis, “X-ray interactions: photoabsorption, scattering, transmission and reflection at E=50‒30,000  eV, Z=1‒92,” At. Data Nucl. Data Tables 54, 181–342 (1993).
[CrossRef]

J. Phys. B (1)

R. Keenan, C. L. S. Lewis, J. S. Wark, and E. Wolfrum, “Measurements of the XUV transmission of aluminium with a soft x-ray laser,” J. Phys. B 35, L447–L451 (2002).
[CrossRef]

Nat. Phys. (1)

B. Nagler, U. Zastrau, R. R. Fustlin, S. M. Vinko, T. Whitcher, A. J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupsky, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hajkova, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F. Y. Khattak, A. R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlova, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, K.-H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W. J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H. J. Vollmer, and J. S. Wark, “Turning solid aluminium transparent by intense soft x-ray photoionization,” Nat. Phys. 5, 693–696 (2009).
[CrossRef]

Opt. Express (1)

Opt. Lett. (1)

Phys. Rev. B (2)

E. M. Gullikson, P. Denham, S. Mrowka, and J. H. Underwood, “Absolute photoabsorption measurements of Mg, Al, and Si in the soft-x-ray region below the L2, 3 edges,” Phys. Rev. B 49, 16283–16288 (1994).
[CrossRef]

E. Shiles, T. Sasaki, M. Inokuti, and D. Y. Smith, “Self-consistency and sum-rule tests in the Kramers-Kronig analysis of optical data: applications to aluminum,” Phys. Rev. B 22, 1612–1628 (1980).
[CrossRef]

Phys. Rev. Lett. (1)

T. Ditmire, E. T. Gumbell, R. A. Smith, J. W. G. Tisch, D. D. Meyerhofer, and M. H. R. Hutchinson, “Spatial coherence measurement of soft x-ray radiation produced by high order harmonic generation,” Phys. Rev. Lett. 77, 4756–4759 (1996).
[CrossRef]

Proc. SPIE (1)

K. Rosfjord, C. Chang, and D. Attwood, “Direct index of refraction measurement of silicon and ruthenium at EUV wavelengths,” Proc. SPIE 5538, 92–95 (2004).
[CrossRef]

Other (3)

D. Y. Smith, E. Shiles, and M. Inokuti, in Handbook of Optical Constants of Solids, E. D. Palik, ed. (Academic, 1985) pp. 369–406.

Centre for X-ray Optics Lawrence Berkley National Laboratory, http://henke.lbl.gov/optical_constants .

D. Attwood, Soft X-Rays and Extreme Ultraviolet Radiation (Cambridge University, 1999).

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (8)

Fig. 1.
Fig. 1.

Diagram of experimental setup, with target design shown.

Fig. 2.
Fig. 2.

Example of double slit diffraction as shown on the MCP at harmonic 21 (38 eV) with 500 nm of Al covering half of one slit. The top half of the image is the covered region. The phase shift due to the Al foil can be seen. The horizontal bar-like structure is due to diffraction from the edge of the foil and from bars used to keep the thin slits from bending.

Fig. 3.
Fig. 3.

Amplitude of the complex coherence factor as a function of harmonic number for different slit separations (as labeled).

Fig. 4.
Fig. 4.

Amplitude of the complex coherence factor for different harmonics (as labeled) as a function of slit separation.

Fig. 5.
Fig. 5.

Measured phase shift as a function of foil thickness for Al foils at harmonic 23 (35 eV).

Fig. 6.
Fig. 6.

Measurements of the real component of the refractive index of Al compared to the CXRO database [12], Shiles et al. [5], and previous experimental work by Larruquert et al. [7,8].

Fig. 7.
Fig. 7.

Measurements of the imaginary component of the refractive index of Al compared to the CXRO database [12], Henke et al. [4], Shiles et al. [5], and previous experimental work by Larruquert et al. [7,8].

Fig. 8.
Fig. 8.

Measurements of the imaginary component of the refractive index of Fe compared to the CXRO database [12] and Henke et al. [4].

Equations (2)

Equations on this page are rendered with MathJax. Learn more.

n=1nareλ22π(f10if20)=1δ+iβ,
V=2T1+T|γ|.

Metrics