Abstract

In solid-state laser emission, the spectral width mainly depends on two factors: frequency shift and broadening due to the short duration of the spikes. The latter being more important as the emitted wave train is shorter and the envelope slope steeper, it is of interest to consider an O-switched laser. The importance of the frequency shift compared to spectral width is determined for single pulses by measuring variations of the emitted wavelength as a function of time. Experiments are carried out by using a high-speed rotating mirror camera. The time resolution is about 3.2 nsec. Some results are reported, deduced from streak photographs of Fabry–Pérot rings. For a particular mode, a wavelength shift of the order of 3 × 10−3 Å in 50 nsec was detected; this shift is not a linear function of time.

© 1966 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (4)

Fig. 1
Fig. 1

Schéma de l’ensemble optique et électronique.

Fig. 2
Fig. 2

Photographie du dispositif optique d’analyse—L: laser; FP: interféromètre de Fabry–Pérot; L1: objectif de focalisation des anneaux d’interférence; F: fente de sélection d’une région diamétrale des anneaux: L2: objectif de conjugaison de la fente F et du film disposé au fond de la chambre photographique Ch; L3: lentille de conjugaison de la pupille d’entrée et du miroir tournant M.

Fig. 3
Fig. 3

Photographies et coupes photométriques d’anneaux Fabry–Pérot: (a) laser à gaz He–Ne monophasé; (b) laser à rubis déclenché, seuil d’émission stimulée; (c) laser à rubis déclenché, énergie de pompage 40% au-dessus du seuil.

Fig. 4
Fig. 4

Laser déclenché: en haut, enregistrement photographique de portions d’anneaux FP obtenus au moyen de la caméra à fente (durée de l’impulsion inférieure à 50.10−9 s); en bas, coupes photométriques des anneaux dans les régions correspondantes.

Metrics