Abstract

No abstract available.

Full Article  |  PDF Article

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, J. Opt. Soc. Am. 65, 1043 (1975).
    [CrossRef]
  2. A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Opt. Commun. 14, 260 (1975).
    [CrossRef]
  3. M. Yamamoto, Opt. Commun. 10, 200 (1974).
    [CrossRef]
  4. M. Yamamoto, Jpn. J. Appl. Phys.Suppl. 14-1, 413 (1975).
  5. L. G. Schulz, F. R. Tangherlini, J. Opt. Soc. Am. 44, 362 (1954).
    [CrossRef]
  6. L. G. Schulz, J. Opt. Soc. Am. 44, 357 (1954).
    [CrossRef]

1975

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Opt. Commun. 14, 260 (1975).
[CrossRef]

M. Yamamoto, Jpn. J. Appl. Phys.Suppl. 14-1, 413 (1975).

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, J. Opt. Soc. Am. 65, 1043 (1975).
[CrossRef]

1974

M. Yamamoto, Opt. Commun. 10, 200 (1974).
[CrossRef]

1954

Azzam, R. M. A.

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Opt. Commun. 14, 260 (1975).
[CrossRef]

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, J. Opt. Soc. Am. 65, 1043 (1975).
[CrossRef]

Bashara, N. M.

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, J. Opt. Soc. Am. 65, 1043 (1975).
[CrossRef]

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Opt. Commun. 14, 260 (1975).
[CrossRef]

Schulz, L. G.

Tangherlini, F. R.

Yamamoto, M.

M. Yamamoto, Jpn. J. Appl. Phys.Suppl. 14-1, 413 (1975).

M. Yamamoto, Opt. Commun. 10, 200 (1974).
[CrossRef]

Zaghloul, A. R. M.

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Opt. Commun. 14, 260 (1975).
[CrossRef]

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, J. Opt. Soc. Am. 65, 1043 (1975).
[CrossRef]

J. Opt. Soc. Am.

Jpn. J. Appl. Phys.

M. Yamamoto, Jpn. J. Appl. Phys.Suppl. 14-1, 413 (1975).

Opt. Commun.

A. R. M. Zaghloul, R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Opt. Commun. 14, 260 (1975).
[CrossRef]

M. Yamamoto, Opt. Commun. 10, 200 (1974).
[CrossRef]

Cited By

OSA participates in CrossRef's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (3)

Fig. 1
Fig. 1

δΨ = Ψ − 45° vs the angle of incidence ϕ computed for λ = 6328 Å, MgF2–Ag system. The optimum film thickness d0 is 910 Å

Fig. 2
Fig. 2

Maximum deviation of Ψ from 45° (δΨ)m vs the deviation of film thickness from the optimum value (dd0) computed for λ = 6328 Å.

Fig. 3
Fig. 3

Experimental results. Ψ and Δ vs the angle of incidence ϕ, MgF2–Ag reflection retarder.

Tables (1)

Tables Icon

Table I Comparison of Substrate Metals for the System MgF2–Metal

Metrics