Author Affiliations
M. Abid,(a),*
T. Moudakir,(b)
S. Gautier,(c)
G. Orsal,(c)
A. En Naciri,(d)
Z. Djebbour,(e),(f)
J.-H. Ryou,(g)
G. Patriarche,(h)
H. J. Kim,(g)
Z. Lochner,(g)
K. Pantzas,(a)
D. Alamarguy,(e)
F. Jomard,(i)
R.D. Dupuis,(g)
and A. Ougazzaden(a)
(a)Georgia Institute of Technology / GT-Lorraine-UMI 2958 Georgia Tech-CNRS, 2-3 rue Marconi, 57070 Metz, France
(b)Supélec / UMI 2958 Georgia Tech-CNRS, 2 rue E. Belin, 57070, Metz, France
(c)Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Système (LMOPS), EA 4423, Université Paul Verlaine et Supélec / UMI 2958 Georgia Tech-CNRS, 2 rue E. Belin, 57070 Metz, France
(d)Laboratoire de Physique des Milieux Denses (LPMD), Université Paul Verlaine-Metz, 1 boulevard Arago, 57070 Metz, France
(e)Laboratoire de Génie Electrique de Paris (LGEP), UMR 8507 CNRS, Supélec, Université Paris-Sud 11, Université Pierre et Marie Curie, 11 rue Joliot-Curie, 91192 Gif-sur-Yvette Cedex, France
(f)Department of Physics and Engineering Science, University of Versailles (UVSQ), 45 Av. Des Etats Unis, 78035 Versailles, France
(g)Center for Compound Semiconductors and School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, Georgia 30332, USA
(h)LPN CNRS, UPR, Route de Nozay, F-91460 Marcoussi, France
(i)Laboratoire de Physique des solides et de Crisallogénèse (LPSC), UMR 8635 CNRS, University of Versailles-Saint-Quentin1, place Artstide Briand, 92195 Meudon Cedex, France
*Corresponding author: mabid@georgiatech-metz.fr