Abstract
© 2004 IEEE
PDF ArticleMore Like This
C. Alonso-Ramos, S. Romero-García, A. Ortega-Moñux, I. Molina-Fernández, R. Zhang, H. G. Bach, and M. Schell
Opt. Lett. 37(3) 335-337 (2012)
Dzmitry O. Dzibrou, Jos J. G. M. van der Tol, and Meint K. Smit
Opt. Lett. 38(18) 3482-3484 (2013)
Masaru Zaitsu, Takuo Tanemura, Akio Higo, and Yoshiaki Nakano
Opt. Express 21(6) 6910-6918 (2013)